日本syscom防濕包裝材料薄膜透濕度測(cè)試儀 透濕度測(cè)試設(shè)備，主要用于測(cè)量包裝材料（如食品和醫(yī)藥品包裝）、防潮薄膜、纖維產(chǎn)品、涂層、涂膜、粘合劑等的水蒸氣透過率 主要用途： 包裝材料的透濕性測(cè)試。 防潮薄膜、纖維產(chǎn)品、涂層、涂膜、粘合劑等的透濕性測(cè)試。

日本k-axis食品研究機(jī)構(gòu)用面包體積測(cè)定儀 該設(shè)備可以快速簡(jiǎn)單地測(cè)量非定形立體（如面包、糕點(diǎn)等）的體積、尺寸（長(zhǎng)、寬、高）以及重量和比重（需選配）。 特別為面包食品行業(yè)設(shè)計(jì)，能夠立即在記錄表上顯示“縱橫比”和“彈性”的計(jì)算結(jié)果。 該設(shè)備適用于研究開發(fā)和品質(zhì)管理，有助于開辟新的研究和管理領(lǐng)域。 與之前廣泛使用的“菜種置換法”相比，該設(shè)備可以提供高精度和穩(wěn)定性的數(shù)據(jù)，不受個(gè)人差異影響。

日本otsuka大塚多樣品納米粒子徑測(cè)試儀 nanoSAQLA是一種通過動(dòng)態(tài)光散射法（DLS法）測(cè)量粒徑（粒徑范圍0.6nm~10um）的設(shè)備。 支持從稀薄到濃厚系廣泛濃度范圍內(nèi)的多檢體測(cè)定的新光學(xué)系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)實(shí)驗(yàn)室必需的輕量、小型化、標(biāo)準(zhǔn)1分鐘的高速測(cè)定。 非浸泡型、不受接觸器影響、無需自動(dòng)取樣器、標(biāo)準(zhǔn)配備“5檢體連續(xù)測(cè)量”的新產(chǎn)品。

otsuka大塚電池材料研發(fā)ZETA電位粒徑測(cè)試儀 非常適用于界面化學(xué)、無機(jī)物質(zhì)、半導(dǎo)體、聚合物、生物學(xué)、制藥和醫(yī)學(xué)領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和應(yīng)用研究，不僅涉及微小顆粒，還涉及薄膜和平板表面的科學(xué)研究。

otsuka大塚半導(dǎo)體漿料ZETA電位徑粒測(cè)試儀 非常適用于界面化學(xué)、無機(jī)物質(zhì)、半導(dǎo)體、聚合物、生物學(xué)、制藥和醫(yī)學(xué)領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和應(yīng)用研究，不僅涉及微小顆粒，還涉及薄膜和平板表面的科學(xué)研究。

日本otsuka大塚新ZETA電位計(jì)兼納米粒度儀 可根據(jù)用途增加功能(分子量測(cè)定、粒子濃度測(cè)定、微流變測(cè)定、凝膠網(wǎng)眼結(jié)構(gòu)分析、粒徑多角度測(cè)定) ● 可以用標(biāo)準(zhǔn)流動(dòng)池連續(xù)測(cè)量粒徑和zeta電位 ● 可以測(cè)量從稀薄到濃厚溶液(~40% )的廣泛濃度范圍的粒徑zeta電位 ● 可以在高鹽濃度下測(cè)定平板狀樣品的zeta電位 ● 可在0~90℃的廣闊溫度范圍內(nèi)進(jìn)行測(cè)量

日本miclab電流電壓特性測(cè)定燃料耐久測(cè)試儀 氣體供應(yīng)加濕從加熱到電氣特性評(píng)價(jià)，通過專用系統(tǒng)軟件進(jìn)行集中管理、自動(dòng)測(cè)試。

日本進(jìn)口miclab燃料電池發(fā)電測(cè)試儀評(píng)估設(shè)備 氣體供應(yīng)加濕從加熱到電氣特性評(píng)價(jià)，通過專用系統(tǒng)軟件進(jìn)行集中管理、自動(dòng)測(cè)試。