nisshooptical鹵素光源目視檢查測量儀日本 AFM-30 這是一種新型深度和高度測量裝置，結合了使用光切割的狹縫圖像觀察和使用聚光圖像的AF（自動對焦）跟蹤。 連續(xù)跟蹤自動對焦驅動可實現(xiàn)快速、易于使用的測量，并具有高重復性。 由于該方法在觀察狹縫圖像投影的臺階形狀的同時進行測量，因此可以實時識別測量屏幕上的高度，從而輕松確定需要測量的區(qū)域。

日本nisshooptical半導體激光器測量裝置 AFM-30 這是一種新型深度和高度測量裝置，結合了使用光切割的狹縫圖像觀察和使用聚光圖像的AF（自動對焦）跟蹤。 連續(xù)跟蹤自動對焦驅動可實現(xiàn)快速、易于使用的測量，并具有高重復性。 由于該方法在觀察狹縫圖像投影的臺階形狀的同時進行測量，因此可以實時識別測量屏幕上的高度，從而輕松確定需要測量的區(qū)域。

日商精光nisshooptical光學系統(tǒng)測量深高度 AFM-30 這是一種新型深度和高度測量裝置，結合了使用光切割的狹縫圖像觀察和使用聚光圖像的AF（自動對焦）跟蹤。 連續(xù)跟蹤自動對焦驅動可實現(xiàn)快速、易于使用的測量，并具有高重復性。 由于該方法在觀察狹縫圖像投影的臺階形狀的同時進行測量，因此可以實時識別測量屏幕上的高度，從而輕松確定需要測量的區(qū)域。

日本meidensha電化學測量裝置帶液晶監(jiān)視器 HZ-7000系列 HZ－7000 配置了液晶監(jiān)視器, 是具備存儲功能的小型, 高性能恒電位 / 恒電流測試儀。 以循環(huán)伏安法為中心, 可進行各種電化學測量。

日本meidensha帶存儲功能電化學測量裝置 HZ-7000系列 HZ－7000 配置了液晶監(jiān)視器, 是具備存儲功能的小型, 高性能恒電位 / 恒電流測試儀。 以循環(huán)伏安法為中心, 可進行各種電化學測量。

日本nisshooptical深度高度測量機鹵素光源 AFM-30 這是一種新型深度和高度測量裝置，結合了使用光切割的狹縫圖像觀察和使用聚光圖像的AF（自動對焦）跟蹤。 連續(xù)跟蹤自動對焦驅動可實現(xiàn)快速、易于使用的測量，并具有高重復性。 由于該方法在觀察狹縫圖像投影的臺階形狀的同時進行測量，因此可以實時識別測量屏幕上的高度，從而輕松確定需要測量的區(qū)域。

日本nisshooptical微米深度高度測量裝置 AFM-30 這是一種新型深度和高度測量裝置，結合了使用光切割的狹縫圖像觀察和使用聚光圖像的AF（自動對焦）跟蹤。 連續(xù)跟蹤自動對焦驅動可實現(xiàn)快速、易于使用的測量，并具有高重復性。 由于該方法在觀察狹縫圖像投影的臺階形狀的同時進行測量，因此可以實時識別測量屏幕上的高度，從而輕松確定需要測量的區(qū)域。

日本maedauni高檔噴漆用精密測量設備潔凈室 JA-13-T/JAC-13-T 適用于需要清潔空氣的工作，如半導體、精密儀器、食品、高級涂料、醫(yī)療設備等。